Tiedosto:Kpfm.png
Kpfm.png (741 × 400 kuvapistettä, 10 KiB, MIME-tyyppi: image/png)
Tämä tiedosto on tiedostotietokanta Wikimedia Commonsista. Tiedot kuvaussivulta näkyvät alla. | Tiedoston kuvaussivu Commonsissa |
Tästä tiedostosta on saatavilla myös SVG-versio eli vektorigrafiikkatiedosto. SVG-versiota tulisi suosia, mikäli se on laadultaan tätä rasterikuvaa parempi.
File:Kpfm.png → File:Kelvin probe force microscopy.svg
|
Yhteenveto
In Kelvin probe force microscopy, a conducting cantilever is scanned over a surface at a constant height while an AC+DC potential is applied. The AC signal is a sinusoid whose frequency matches the mechanical resonance of the cantilever. The cantilever is driven into oscillation by electrostatic forces where the DC potential difference between the surface and the cantilever is non-zero. Using a four-quadrant detector and an A/D to detect cantilever motion, the feedback circuit drives the DC signal to the surface potential, minimizing cantilever motion and resulting in a map of the work function of the surface.
Credit
Drawn by Alison Chaiken using the xfig program. Originally uploaded as w:Kpfm.png.
Lisenssi
Voit kopioida, levittää ja/tai muuttaa tätä asiakirjaa GNU Free Documentation License -lisenssin version 1.2 tai minkä tahansa Free Software Foundationin julkaiseman myöhemmän version ehtojen alaisena; ei koske muuttumattomia kohtia, etukannen tekstejä eikä takakannen tekstejä. Kopio tästä lisenssistä on saatavilla osiossa GNU Free Documentation License.http://www.gnu.org/copyleft/fdl.htmlGFDLGNU Free Documentation Licensetruetrue |
Tämä tiedosto on lisensoitu Creative Commons Nimeä-JaaSamoin 3.0 Ei sovitettu -lisenssillä. | ||
| ||
Lisensointimerkintä lisätiin tähän tiedostoon osana GFDL-lisensointipäivitystä.http://creativecommons.org/licenses/by-sa/3.0/CC BY-SA 3.0Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0truetrue |
- Voit:
- jakaa – kopioida, levittää ja esittää teosta
- remiksata – valmistaa muutettuja teoksia
- Seuraavilla ehdoilla:
- nimeäminen – Sinun on mainittava lähde asianmukaisesti, tarjottava linkki lisenssiin sekä merkittävä, mikäli olet tehnyt muutoksia. Voit tehdä yllä olevan millä tahansa kohtuullisella tavalla, mutta et siten, että annat ymmärtää lisenssinantajan suosittelevan sinua tai teoksen käyttöäsi.
- jaa samoin – Jos muutat tai perustat tähän työhön, voit jakaa tuloksena syntyvää työtä vain tällä tai tämän kaltaisella lisenssillä.
Kohteet, joita tässä tiedostossa esitetään
esittää
Tiedoston historia
Päiväystä napsauttamalla näet, millainen tiedosto oli kyseisellä hetkellä.
Päiväys | Pienoiskuva | Koko | Käyttäjä | Kommentti | |
---|---|---|---|---|---|
nykyinen | 2. tammikuuta 2006 kello 21.20 | 741 × 400 (10 KiB) | Chaiken | In Kelvin probe force microscopy, a conducting cantilever is scanned over a surface at a constant height while an AC+DC potential is applied. The AC signal is a sinusoid whose frequency matches the mechanical resonanc |
Tiedoston käyttö
Seuraava sivu käyttää tätä tiedostoa: