Tunnelointimikroskooppi

Wikipedia
Loikkaa: valikkoon, hakuun
Lähikuva tunnelointimikroskoopissa olevasta näytteestä, jota tutkitaan St Andrewsin yliopistossa. Näyte on MoS2 (molybdeenisulfidi), jota tunnustellaan platinairidium-kärjellä.

Tunnelointimikroskooppi (STM, engl. Scanning tunneling microscope) kvanttitunnelointi-ilmiöön perustuva mikroskooppi, jolla saadaan kolmiulotteisia atomitason kuvia aineen pintarakenteesta.[1] Menetelmän, jota laite käyttää, kehittivät 1981 Gerd Binnig ja Heinrich Rohrer (IBM Zürich), ja he saivat siitä Nobelin fysiikanpalkinnon 1986. Tunnelointimikroskoopissa on erittäin ohut neula eli mittakärki, joka tunnustelee hyvin heikolla sähkövirralla näytteen pinnan ominaisuuksia. Tunnelointimikroskoopilla voidaan muun muassa tutkia, millaisia atomeja näytteen pinnalla on ja miten ne ovat järjestäytyneet. Kuvauslaite muuntaa tunnelointivirran muutokset näytteen pintaa ja sen atomien muodostamia rakenteita esittäväksi kuvaksi.[2]

Lähteet[muokkaa | muokkaa wikitekstiä]

  1. Timo Nurmi, Ilkka Rekiaro, Päivi Rekiaro: Sivistyssanakirja.
  2. Fysiikan maailma, Tieteen kuvalehden kirjasarja.

Aiheesta muualla[muokkaa | muokkaa wikitekstiä]

Tämä tieteeseen liittyvä artikkeli on tynkä. Voit auttaa Wikipediaa laajentamalla artikkelia.