SAXS
SAXS (engl. Small-Angle X-ray Scattering) eli pienkulmaröntgensironta on materiaalitieteen tutkimusmenetelmä, jolla saadaan tietoa materiaalien rakenteesta nanometrien kokoluokassa. Menetelmä perustuu tutkittavan näytteen röntgensäteilyn sirontakuvion tulkintaan ja se antaa siten epäsuorasti tietoa näytteen rakenteesta. SAXS-mentelmällä voidaan selvittää muun muassa proteiinien tai muiden hiukkasten muoto liuoksessa, aineiden nanorakenne ja erilaisten materiaalien fraktaalidimensio, kunhan tutkittavat rakenteet tai hiukkaset ovat suuruusluokaltaan 1 – 100 nm.
Pienkulmaröntgensironnassa röntgensäde tunkeutuu tutkittavaan näytteeseen, vuorovaikuttaa näytteen elektronien kanssa ja siroaa elastisesti eli ilman että säteen energia vähenee sirontaprosessissa. Menetelmä perustuu säteiden sirontaan hyvin pieniin kulmiin alkuperäiseen säteen suuntaan verrattuna, joten siitä etuliike pienkulma. Sirontakulma on kääntäen verrannollinen sirottavan rakenteen kokoon.
Katso myös[muokkaa | muokkaa wikitekstiä]
- Röntgendiffraktio
- Sironta
- SANS (pienkulmaneutronisironta)
Lähteet[muokkaa | muokkaa wikitekstiä]
- O. Glatter ja O. Kratky, eds.: Small Angle X-ray Scattering. Academic Press Inc., 1982. ISBN 0-12-286280-5. Teoksen verkkoversio. (Arkistoitu – Internet Archive) (englanniksi)
- L.A. Feigin ja D.I. Svergun: Structure Analysis by Small-Angle X-Ray and Neutron Scattering. New York: Plenum Press, 1987. ISBN 0-306-42629-3. Teoksen verkkoversio. (englanniksi)